日立X-Strata920X射線熒光鍍層測厚儀

日立x-strata920x射線熒光鍍層測厚儀
日立x-strata920使用x射線熒光(xrf)進(jìn)行的鍍層厚度測量是經(jīng)過證明的快速的無損分析技術(shù)，x-strata920設(shè)計(jì)為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應(yīng)用專家對 x-strata920 進(jìn)行了進(jìn)一步升級， 確保獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果，滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括 pcb 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
x-strata920x這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時(shí)通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點(diǎn)對齊，即可開始測量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來，然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。得益于通過可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式，您將對結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案ea1000aiii、ea1000vx、ea1200vx、ea1400vx、ea6000vx、ea8000vx、ft110a、ft160、ft160s、x-strata920）
使用x-strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范，如ipc-4552a、iso 3497、astm b568 和 din 50987。