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向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，cbb電容，會導致短路故障還是開路故障
一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導致短路故障。片狀獨石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。
但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。
向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導致短路故障還是開路故障
一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導致短路故障。片狀獨石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。
但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內。
電容器的電壓加速和溫度加速
通過電壓加速與溫度加速系數可推算出電容器的使用壽命。可將產品使用時的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數進行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，而我們運用以下公式便可簡單地進行推算。 47_01cn.png 在此公式的基礎上，通過在更為嚴苛的條件(更高溫、更高電壓)下進行加速試驗，可推算出產品在實際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，我們一起來比較一下獨石陶瓷電容器的加速試驗與實際產品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗中將耐久試驗時間視為la，將實際使用環(huán)境下的相當年數視為ln，用于上述公式。 耐久試驗條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數 溫度加速系數 相應年限 ta＝85°c va＝20v la＝1000h tn＝65°c vn＝5v n＝4 θ＝8 ln＝？h 這樣，吉林電容，我們即可通過在85°c、施加20v電壓的環(huán)境下進行了1000h的耐久試驗，推算出在5°c、施加5v電壓的環(huán)境下產品使用年限為1448155h(≒165年！)。計算中使用的電壓加速系數、溫度加速系數會由陶瓷材料的種類及構造產生不同，但通過加速計算公式可在相對較短的時間內利用試驗結果來驗證長時間的實際使用環(huán)境中的產品使用壽命。
電容器的大與小
現在每個人都有一兩部手機，智能手機有大到小米mix-6.4吋小到iphone4-3.5吋，每個產品有大有小，大有大的好處，看視頻文字比較清晰，小也有小的好處，容易單手操作攜帶方便。
安規(guī)電容器也一樣，產品外徑因材質工藝不同有大有小，據雋創(chuàng)小編了解陶瓷電容器容量、性能一樣，但也有大有小，大的好處是絕緣好、性能穩(wěn)定，現在電源板要求的同時還要小巧精致，cbb81電容，小尺寸的電容器就非常受歡迎。
陶瓷電容器的容量有大有小，電容的容量表示電容所能儲存的電荷的多少，容量對電源濾波來說大一點有好處！但容量太大漏電流就大，容易損壞整流二*管！加大電源損耗！還有就是大容量陶瓷電容器要比小容量陶瓷電容器貴，影響成本。總之恰到好處是個不錯的選擇。
電子元器件有很多種，有陶瓷電容器、瓷片電容器、安規(guī)電容器、獨石電容器、薄膜電容器、點解電容器。。。。，大部分電容器都有不同性能與應用。電解電容容量大，但一般電壓小35v左右，如選擇高電壓價格很昂貴。陶瓷電容耐壓大（4000vac)但容量小z大10000pf左右。可見選擇大與小都是根據產品性能及市場成本而定。
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